SPECTRO 320 的設計基礎是在於光學測試與測量應用上成為高性能、高準確性、多功能性的光譜儀。SPECTRO 320

可配合校正過的偵測頭當做光譜輻射計、可為測量穿透率與折射率的光譜分光計、光學光纖的度量衡學上做光學光譜

分析或是測試二極體雷射。本系統的創新與光學光纖為基礎的概念能解決多樣化的光學測量問題。